Hur fungerar dioder stabilt i hög - temperaturkommunikationsmiljöer?
Lämna ett meddelande
1, mekanism för hög temperatur och nedbrytning av prestanda
Prestationsmutation orsakad av bärares termisk excitation
Under höga temperaturförhållanden förbättras den termiska excitationen av laddningsbärare inom halvledarmaterial, vilket leder till betydande förändringar i de elektriska egenskaperna hos dioder. Vid 150 grader ökar den omvända läckströmmen för Schottky -dioderna med tre storleksordningar jämfört med 25 graders miljö, vilket direkt orsakar en kraftig ökning av kraftförlusten. Vid 175 grad minskar den främre spänningsfallet för en regelbunden PN -korsningsdiode med 15%, vilket gör att kretsens förspänningspunkt driver och påverkar signalintegritet.
Strukturella skador orsakade av termisk stress
När korsningstemperaturen överstiger 150 grader upplever det kisel - baserade material en felanpassning i termisk expansionskoefficient, vilket leder till skalning av metalliseringsskiktet. Enligt faktiska testdata från en viss tillverkare av kommunikationsutrustning nådde bindningstrådsavskiljningshastigheten för till-220 förpackade dioder 12% efter kontinuerlig drift vid 200 grader under 1000 timmar.
Högfrekvent karakteristisk nedbrytning
I hög - frekvensscenarier över 100 MHz koncentrerar hudeffekten värme på ytan. Experiment har visat att när SIC Schottky -dioderna arbetar vid 200 MHz är yttemperaturen 25 grader högre än kroppstemperaturen, vilket resulterar i en 30% förlängning av omvänd återhämtningstid och försämring av kommunikationssignalkvaliteten.
2, genombrott i specialiserad diodmaterialsteknologi med hög temperatur
Tillämpning av breda bandgap halvledarmaterial
SIC -material: Bandgap -bredd på 3,26EV, kritisk nedbrytningsfältstyrka på 3MV/cm, vilket är 10 gånger högre än Si -material. Vid 175 grad är den omvända läckströmmen i Crees 1200V SIC Schottky Diode endast 0,1 μA, vilket är två storleksordningar lägre än SI -enheter.
GaN -material: Med en elektronmobilitet på 2000 cm ²/v · s är det lämpligt för hög - frekvensscenarier. Vid 200 grad är växlingsförlusten av EPC Company's GAN HEMT -enhet endast 0,5W, vilket är 60% lägre än SI MOSFET.
2.2 Ny Metal Semiconductor -kontaktstruktur
Som svar på det höga - temperaturläckeproblemet med Schottky -dioder antar Infineon Tiw/Ni/Ag -flerskiktsmetalliseringsprocess, och kontaktmotståndet förblir under 0,5 m Ω · cm ² vid 200 grader. SBD (Hybrid Barrier Schottky Diode) som utvecklats av ROHM minskar den omvända läckage -temperaturkoefficienten från 0,5%/ grad till 0,1%/ grad genom att införa ett SIN -passiveringsskikt.
Förpackningsteknikinnovation
Keramisk substratförpackning: DFN8 × 8-förpackning med användning av ALN-keramiskt substrat, med ett termiskt motstånd så lågt som 3K/W, vilket är 40% lägre än traditionell TO-252-förpackning.
3D -staplad förpackning: SIP -förpackningstekniken som utvecklats av AMKOR ökar värmeflödesdensiteten från 5W/mm ² till 15W/mm ² genom TSV -vertikal samtrafik.
3, Systemnivå termisk hanteringslösning
Aktiv kylteknik
Mikrokanal vätskekylning: Huawei basstationer använder kisel - baserade mikrokanalens vätskekylplattor. När kylvätskeflödeshastigheten är 2 m/s kan diodkorsningstemperaturen kontrolleras under 120 grader, vilket är 30 graders lägre än luften - kyld lösning.
Fasförändringsvärmeavledning: Det paraffinbaserade kompositfasförändringsmaterialet som utvecklats av ZTE Corporation har en latent värme på 200J/g och kan absorbera 1000J värme vid en fasförändringspunkt på 150 grader.
Intelligent temperaturkontrollkrets
Dynamisk strömbegränsning: TI: s TPS25940 -chip justerar dynamiskt utgångsströmmen genom att detektera temperaturen på diodförpackningen. Faktiska testdata visar att strömmen kan begränsas till 70% av det nominella värdet vid 150 grader, vilket förlänger enhetens livslängd med tre gånger.
Termoelement Stängt - Loop Control: ADI ADT7420 Temperatursensor i kombination med TEC -kylchip uppnår ± 0,5 graders temperaturkontrollnoggrannhet, lämplig för extrema scenarier såsom satellitkommunikation.
Termisk elektrisk samarbetsdesign
PCB-termisk layoutoptimering: Anta en 6-lagers PCB-design, diodvärmekällan separeras från signalskiktet med 2 interna elektriska skikt, vilket minskar termisk motstånd med 25%.
Verifiering av termisk simulering: ANSYS ICEPAK Software Simulation visar att en rimlig layout kan minska diodens hotspot -temperatur från 180 grader till 140 grader och förbättra systemet MTBF till 100000 timmar.
https://www.trrsemicon.com/transistor/voltage'ton







